探测系统

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Leitz扫描测头

提供最优的扫描性能 - 这是用户可以从Leitz X系列扫描测头所获得的。从Leitz LSP-X1到Leitz LSP-X3和Leitz LSP-X5，提供了不同尺寸、不同性能的扫描探测系统，均可以实现离散扫描、自定心测量以及高速扫描任务，实现快速的精确形状和轮廓的测量任务。

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TESA触发测头

TESASTAR系列触发测头包括了各种结构与方式，如实现手动分度的测座与测头一体化探测系统TESASTAR与TESASTAR-i，以及连接自动测座的TESASTAR-p和TESASTAR-mp。

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